Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited
13976
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9781119818977
EAN: 9781119818977
Книги: Отраслевые издания
ID: 7765462
Добавлено: 03.05.2021
Описание
Nanoscience, nanotechnologies and the laws of quantum physics are sources of disruptive innovation that open up new fields of application. Quantum engineering enables the development of very sensitive materials, sensor measurement systems and computers. Quantum computing, which is based on two-level systems, makes it possible to manufacture computers with high computational power.
This book provides essential knowledge and culminates with an industrial application of quantum engineering and nanotechnologies. It presents optical systems for measuring at the nanoscale, as well as quantum physics models that describe how a two-state system interacts with its environment. The concept of spin and its derivation from the Dirac equation is also explored, while theoretical foundations and example applications aid in understanding how a quantum gate works. Application of the reliability-based design optimization (RBDO) method of mechanical structures is implemented, in order to ensure reliability of estimates from the measurement of mechanical properties of carbon nanotube structures.
This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master's students.
Смотри также о книге.
СкидкаГИД инфо +
Сервис сравнения цен СкидкаГИД предлагает сравнить цены на товар «Книга: Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited»
По данным нашего сервиса товар предлагался к продаже в 1 магазине. На сегодняшний день доступен в 1 магазине: ЛитРес. По цене от 13976 р. до 13976 р. В случае, если для вас на данный момент цена слишком высока, вы можете воспользоваться сервисом «Сообщить о снижении цены» - мы оповестим вас как только цена опустится до желаемого значения. Но будьте внимательны, используя сервис «История цены» можно спрогнозировать в какую сторону изменяется цена, возможно сейчас самое время для покупки.
Кроме сервиса сравнеция цен, наш сайт также позволяет экономить еще двумя способами: промокодный сервис (информация о промокодах, а также скидки и акции на товары), а также собственный кэшбэк сервис. Купить с кешбеком можно в следующих магазинах: ЛитРес. А информация о промокодах доступна рядом с ценой от магазина и постоянно обновляется.
О книге
| Параметр | Значение |
|---|---|
| ISBN | 9781119818977 |
| Автор(ы) | Abdelkhalak El Hami |
| Издатель | John Wiley & Sons Limited |
| Серия | Start |
| Форматы электронной версии | FB2.ZIP,FB3,EPUB,IOS.EPUB,TXT.ZIP,RTF.ZIP,A4.PDF,A6.PDF,MOBI.PRC,TXT |
Где купить (1)
Цена от 13976 руб до 13976 руб в 1 магазине
сообщить о снижении цены| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| ЛитРес 5/5 | обновлено 24.05.2026 | |
| Яндекс.Маркет 5/5 | Промокоды на скидку | |
Кэшбэк сервис СкидкаГИД
На сегодняшний день товар «Книга: Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited» можно купить с кешбеком в 1 магазине: ЛитРес
Кэшбэк – это возврат части денег, потраченных Вами в интернет-магазинах. Всего на нашем сайте более 500 магазинов, с многими из которых Вы наверняка уже знакомы. У каждого магазина свои условия. Кто-то возвращает процент от покупки, а кто-то фиксированную сумму.
Заказывайте он-лайн и получайте часть денег обратно, подробнее..
