Дифракционный структурный анализ Учебное пособие для СПО (Суворов Э.); Юрайт, 2019

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной.
.Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям.
.Для студентов среднего профессионального образования.

Развернуть фото

Смотри также о книге.

Основные характеристики товара

Параметр	Значение
ISBN	978-5-534-11822-3
Автор(ы)	Суворов Э.
Автор	Суворов Э. В.
Вес, в граммах	300
Вес	0.46кг
Возрастные ограничения	12
Год издания	2019
Издатель	Юрайт
Издательство	Юрайт
Кол-во страниц	272
Количество страниц	272
Назначение	для технических ВУЗов
Переплет	Твердый переплёт
Переплёт	твердый
Раздел	Физические науки
Размеры	16,20 см × 24,50 см × 1,50 см
Серия	Профессиональное образование
Страниц	272
Тематика	Физика
Тип обложки	твердая
Формат	162x245мм