Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited

13096

Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9781119808145
EAN: 9781119808145
Книги: Техническая литература
ID: 7093935
Добавлено: 18.01.2021

Рейтинг:

(0/5)

Описание

To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.

This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.

Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master's students.

Развернуть фото

Смотри также о книге.

СкидкаГИД инфо +

Сервис сравнения цен СкидкаГИД предлагает сравнить цены на товар «Книга: Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited»

По данным нашего сервиса товар предлагался к продаже в 1 магазине. На сегодняшний день доступен в 1 магазине: ЛитРес. По цене от 13096 р. до 13096 р. В случае, если для вас на данный момент цена слишком высока, вы можете воспользоваться сервисом «Сообщить о снижении цены» - мы оповестим вас как только цена опустится до желаемого значения. Но будьте внимательны, используя сервис «История цены» можно спрогнозировать в какую сторону изменяется цена, возможно сейчас самое время для покупки.

Кроме сервиса сравнеция цен, наш сайт также позволяет экономить еще двумя способами: промокодный сервис (информация о промокодах, а также скидки и акции на товары), а также собственный кэшбэк сервис. Купить с кешбеком можно в следующих магазинах: ЛитРес. А информация о промокодах доступна рядом с ценой от магазина и постоянно обновляется.

О книге

Основные характеристики товара
Параметр	Значение
ISBN	978-1-119-80814-5
Автор(ы)	Abdelkhalak El Hami
Издатель	John Wiley & Sons Limited

Где купить (1)

Как купить или где мы находимся +

Цена от 13096 руб до 13096 руб в 1 магазине

Также рекомендуем ознакомиться с ценами на Яндекс.Маркет.

Похожие предложения вы можете найти в нашей подборке:
Книги: Технические науки - издательство "John Wiley & Sons Limited"
Книги: Технические науки с ценой 10476-15715 р.

сообщить о снижении цены

Книга: Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited
Магазин	Цена	Наличие
ЛитРес 5/5 ООО «Литрес» ИНН: 7719571260	13096 Электронная книга Кэшбэк до 14% история цены -15.4%	обновлено 15.08.2024

Яндекс.Маркет 5/5 ООО "ЯНДЕКС" ИНН: 7736207543	Кэшбэк до 3.8% Промокоды на скидку

Avito 5/5 ООО КЕХ еКоммерц ИНН: 7710668349	Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома Кэшбэк 57

Кэшбэк сервис СкидкаГИД

На сегодняшний день товар «Книга: Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited» можно купить с кешбеком в 1 магазине: ЛитРес

Кэшбэк – это возврат части денег, потраченных Вами в интернет-магазинах. Всего на нашем сайте более 500 магазинов, с многими из которых Вы наверняка уже знакомы. У каждого магазина свои условия. Кто-то возвращает процент от покупки, а кто-то фиксированную сумму.

Заказывайте он-лайн и получайте часть денег обратно, подробнее..