Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited
14100
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9781119329657
EAN: 9781119329657
Книги: Техническая литература
ID: 6003176
Добавлено: 30.04.2020
Описание
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
Смотри также о книге.
СкидкаГИД инфо +
Сервис сравнения цен СкидкаГИД предлагает сравнить цены на товар «Книга: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited»
По данным нашего сервиса товар предлагался к продаже в 1 магазине. На сегодняшний день доступен в 1 магазине: ЛитРес. По цене от 14100 р. до 14100 р. В случае, если для вас на данный момент цена слишком высока, вы можете воспользоваться сервисом «Сообщить о снижении цены» - мы оповестим вас как только цена опустится до желаемого значения. Но будьте внимательны, используя сервис «История цены» можно спрогнозировать в какую сторону изменяется цена, возможно сейчас самое время для покупки.
Кроме сервиса сравнеция цен, наш сайт также позволяет экономить еще двумя способами: промокодный сервис (информация о промокодах, а также скидки и акции на товары), а также собственный кэшбэк сервис. Купить с кешбеком можно в следующих магазинах: ЛитРес. А информация о промокодах доступна рядом с ценой от магазина и постоянно обновляется.
О книге
| Параметр | Значение |
|---|---|
| ISBN | 9781119329657 |
| Автор(ы) | Abdelkhalak El Hami |
| Издатель | John Wiley & Sons Limited |
| Форматы электронной версии |
Где купить (1)
Цена от 14100 руб до 14100 руб в 1 магазине
сообщить о снижении цены| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| ЛитРес 5/5 | обновлено 23.05.2026 | |
| Яндекс.Маркет 5/5 | Промокоды на скидку | |
Кэшбэк сервис СкидкаГИД
На сегодняшний день товар «Книга: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Abdelkhalak El Hami); John Wiley & Sons Limited» можно купить с кешбеком в 1 магазине: ЛитРес
Кэшбэк – это возврат части денег, потраченных Вами в интернет-магазинах. Всего на нашем сайте более 500 магазинов, с многими из которых Вы наверняка уже знакомы. У каждого магазина свои условия. Кто-то возвращает процент от покупки, а кто-то фиксированную сумму.
Заказывайте он-лайн и получайте часть денег обратно, подробнее..
