Фундаментальные основы анализа нанопленок (Альфорд; Терри Л.; Фельдман; Леонард К.; Майер; Джжеймс В.); Научный мир, 2012

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.

Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Смотри также о книге.

Основные характеристики товара

Параметр	Значение
ISBN	978-5-91522-225-9
Автор(ы)	Альфорд; Терри Л.; Фельдман; Леонард К.; Майер; Джжеймс В.
Автор	Алфорд Т.Л.; Фельдман Л.К., Майер Д.В
Вес, в граммах	750
Вес	0.64кг
Возрастные ограничения	12
Год издания	2012
Издатель	Научный мир
Издательство	Научный мир
Кол-во страниц	396
Количество страниц	392
Назначение	для технических ВУЗов; для экономических ВУЗов
Переплет	Твердый переплёт
Раздел	Физические науки
Размеры	70x100/16
Серия	Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Тип обложки	твердая
Формат	170x245мм
Язык издания	Русский