Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности (Игорь Валентинович Куликов); Политехника, 2017

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие «электронного функционала» и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена
.линейная регрессионная модель.
.Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.
.

Развернуть фото

Смотри также о книге.

Основные характеристики товара

Параметр	Значение
ISBN	978-5-73-251115-4,978-5-7325-1115-4
Автор(ы)	Игорь Валентинович Куликов
Вес	0.28кг
Возрастные ограничения	12
Год издания	2017
Издатель	Политехника
Кол-во страниц	172
Количество страниц	172
Обложка	мягкая обложка
Переплет	Мягкий переплёт
Переплёт	мягкий
Раздел	Пользование программами
Размеры	16,50 см × 23,30 см × 1,00 см
Страниц	172
Тематика	Информатика
Тираж	120
Формат	165x233мм
Язык издания	rus